Máy tính độ lệch của lăng kính

Giới thiệu về công cụ này

Khi ánh sáng đi qua lăng kính tam giác, nó bị bẻ cong ở cả hai bề mặt; tại một góc tới cụ thể, góc lệch toàn phần δ đạt cực tiểu, và tại điểm đối xứng đó nó liên hệ gọn gàng với góc đỉnh A của lăng kính và chiết suất n qua δ = 2·asin(n·sin(A/2)) − A — một cách sắp xếp lại định luật Snell áp dụng hai lần, mỗi lần ở một mặt.

Điều kiện lệch cực tiểu này là phương pháp tiêu chuẩn mà các phòng thí nghiệm quang học dùng để đo chính xác chiết suất của một vật liệu: bằng cách xoay lăng kính để tìm góc lệch cực tiểu bằng thực nghiệm rồi giải công thức theo n, các phép đo bằng máy quang phổ có thể xác định chiết suất đến vài chữ số thập phân mà không cần biết đường đi chính xác của ánh sáng bên trong thủy tinh.

Sinh viên quang học và quang tử kiểm chứng định luật Snell trong phòng thí nghiệm, người vận hành máy quang phổ hiệu chuẩn thiết bị lăng kính, và giáo viên vật lý minh họa sự tán sắc đều dùng hệ thức này, vì đây là một trong số ít công thức khúc xạ có thể kiểm tra trực tiếp trên một lăng kính thật, đo được.